电力场效应晶体管(场效应晶体管)
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原发布者:kevlar0223
场效应晶体管基本知识1.2.评价FET器件性能的基本参数为:阈值,场效应迁移率,开关比和亚阈值斜率。在不同栅压VG下,源漏电流ISD随源漏电压VSD的变化曲线称为FET的输出特征曲线;在不同的源漏电压VSD下,源漏电流ISD随栅压VG的变化曲线称为FET的转移特性曲线。(测量输出和转移特性曲线时,通常源极接地)3.VSDVGVT时,电压增加的部分基本降落在随之加长的夹断沟道上,SD基I本趋于不变,沟道电流达到饱和,器件工作在饱和区。W(2)ISD=iμCi(VGVT)22L5.阈值电压VT是用来度量FET中产生使其导电沟道开启所必须的静电诱导电荷的栅极电压,单位为V。通常,我们希望阈值(绝对值)越低越好,这意味着器件可以在更低的电压下正常工作。6.阈值电压VT的获得:一、根据描述FET工作在线性区域的公式,在较小VSD时的转移曲线的线性区域外推至零电流处即为VT;二、利用饱和区FET转移曲线ISD1/2VG,进行线性拟合,拟合线与VG轴的交点即为阈值电压VT。7.8.阈值影响因素:半导体与绝缘层间界面的电荷陷阱密度、源漏电极接触质量和是否存在内建导电沟道。场效应迁移率是指在单位电场下,电荷载流子的平均漂移速率,它反映了在不同电场下空穴或电子在半导体中
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